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MX(반도체/LCD검사 현미경) |
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MX61A
MX61A는 반도체 검사 전용 현미경으로 사용자가 오랜 시간동안 편안하게 사용할 수 있는 인체공학적인 디자인을 갖추었습니다. 장시간 검사할 수 있고, 작업의 통일성과 생산성을 향상시킬 수 있습니다.
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MX61/MX61L
MX61L(300mm용) / MX61(200mm용) 반도체 검사용 현미경은 명시야,암시야,간이편광(DIC),형광, 적외선 및 자외선을 이용한 다양한 관찰법을 통해 고화질의 선명한 이미지를 제공합니다 |
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MX51
OLYMPUS 산업용 검사 현미경 MX51은 가격대비 활용성이 높은 모델로 보다 편리하고 빠른 관찰이 가능하며, 각종 전자부품, 웨이퍼, 크기가 큰 샘플들의 관찰에 용이하도록 최적화되었습니다. |
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MX-IR/BX-IR
OLYMPUS IR 이미징 시스템은 전용 렌즈와 전용 부속품들로 색수차를 보정하고 700 - 1300nm 범위 파장대의 관찰이 가능하도록 제작되었습니다.
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AL120-12
AL120-12는 웨이퍼 검사를 손쉽고 효율적으로 하기 위한 장비로, FOUP와 FOSB 타입 모두 사용가능하며 마지막 공정 검사에 알맞는 가격대비 높은 효율성을 지닌 장비입니다. 인체공학적인 디자인과 편리성은 오퍼레이터들이 웨이퍼를 교체할 때 안전하고 편리하게 사용할 수 있으며, 휘거나 얇은 웨이퍼도 대응이 가능합니다. |
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AL120
AL120 Wafer Handler 시리즈는 실리콘과 컴파운트 반도체 웨이퍼를 카세트로부터 현미경의 스테이지에 안전하게 운송시켜 제품 검사의 작업 시간을 줄여주는 유용한 장비입니다. 인체공학적인 디자인으로 더욱더 사용하기 쉽게 기능적으로 향상시켜 편리성을 증대시켰습니다. |
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